大流量濾芯微濾膜流體中粒子的去除

當懸浮液流經(jīng)微孔膜孔隙，其所含粒子與孔壁間存在兩種作用力，一是Van Der Waals分子間作用力，另一是固液界面存在的雙電層作用力，膜材料與懸浮粒子間雙電層電性相異時存在靜電引力，而通常粒子與孔壁的微小距離使它們間存在著分子間引力。懸浮液所含微粒粒徑大于膜孔徑或膜材料與粒子的雙電層電性相同時，粒子的去除一般局限于篩濾作用。

采用相轉(zhuǎn)換法制成的膜在有利的化學條件下(粒子與膜間存在吸引力)，對懸浮液中粒子的去除可采用以攔截和擴散機理濾除氣體中懸浮粒子的Rubow模型加以預測。為了消除對流體滑動的修正，Grant對Rubow模型作了改進。該模型預測0.2um孔徑的濾膜在MPPS為0.065um時，該尺寸粒子的預測透過分數(shù)為10-30,這些預測表明在有利的化學條件下，實際上所有的粒子均被除去，與粒徑無關，在不利化學條件下，由于粒子僅以篩濾作用去除，與這些預測表明在有利的化學條件下，由于粒子僅以篩濾作用去除，因此膜濾器對小粒子的去除效率顯著減小。Grant指出對較小粒子，如過濾負荷增加，則截留作用降低，其降低的程度與過濾器濾膜孔徑及厚度、粒徑、粒徑分布及過濾器負荷有關。